第四届国际先进光学制造与检测技术学术会议（AOMATT CHINA 2008），定于2008年11月19--21日在四川成都召开。作为战略调整，从本届起，本国际学术会议逢偶数年召开。现征文如下：

批准：中国科学技术协会/四川省外办

主办: 中国光学学会（COS）

中国科学院光电技术研究所(IOE)

美国SPIE国际光学工程学会

合作主办: 四川省光学学会(待续)

支持：国家科学技术部

中国科学院

国家自然科学基金委员会

(待续)

承办: 中国光学学会光学制造技术专委会(待续)

名誉主席：王大珩          会议主席：周秉琨

共主席：

曹健林 科学技术部副部长

Dr.Eugene G. Arthurs， SPIE 执行主席(USA)

张雨东 中国科学院光电技术研究所所长

James C. Wyant, 亚利桑那大学光学中心主任(USA)

会议论文集（SPIE Proceeding）由美国国际光学工程学会2009年出版，现向国内外征收会议论文摘要和论文正文。

详情请查：SPIE /CONFERENCES CALENDAR或http://www.ioe.ac.cn/aomatt2007/english/index.htm

重要日期：

论文摘要截止日期：         2008年6月30日

论文全文截止日期：                   2008 年10月15日

会议日期：             2008年11月19-21日

会议四个专题,征文内容如下

第1专题大型光学反射镜与望远镜

◆  大型天文望远镜和空间望远镜及其主镜；

◆  新型主镜技术：拼接主镜；轻型主镜；能动薄柔主镜；液体主镜；柔性膜基主镜；可折叠展开主镜设计与制造；

◆  大镜支撑系统与结构；

◆  大型反射镜新型材料技术

第2专题 先进光学制造技术

◆  先进光学制造技术

◆  非球面光学设计、制造与检测；

◆  ICF光学制造工程；

◆  超精密光学制造工程；

◆  微纳光机电制造技术；

◆  光学薄膜技术；

◆  光学设计、仿真软件；

◆  光电、光子元器件制造与集成技术；

◆  先进光学加工设备技术

第3专题光学检测技术与设备

◆  现代光学干涉计量技术；

◆  光学非球面检测技术；

◆  超精密光学表面检测技术；

◆  光学薄膜测试技术

◆  超光滑表面检测技术；

◆  红外光学及短波长光学检测技术；

◆   新型检测技术与设备；

◆  光学检测建模与分析软件

第4专题 微纳光学设计、加工与检测技术与装备

◆  微纳光学系统设计、制造与检测

◆  纳米光学成像与探测

◆  MEMS/MOEMS制造、检测与表征

◆  高端光刻机光学系统设计制造与检测

◆  下一代光刻光学技术研究

来稿注意事项：

1、来稿请注明稿件所属国内各类基金代码、课题或项目编号；2、一律要求英、中文对照摘要（评审用），不含插图，不少于300字，电子版交稿；3、中文摘要详细注明第一作者（如必要可包括第二作者）中文姓名、单位、职称、有效通信地址、邮编、联系电话、手机、传真和E-mail，投稿专题号；4、论文稿件正文英文表达和学术内容应符合SPIE出版格式和EI检索源刊出版要求；5、来稿及时，过期不候；6、鼓励优良学风，提倡高质量论文；7、保密责任自负。

8、来稿邮箱：aomatt08@ioe.ac.cn

投稿联系：

杨 力    李沅清   温尚明

四川成都双流350信箱          邮编：610209

杨  力：028-85100583        yangli@ioe.ac.cn

李沅清  13688330930      aomatt08@ioe.ac.cn

温尚明：028-85100525     aomatt08@ioe.ac.cn   

秘书长： 杨   力，王军学（美） JinxueW@SPIE.org

           AOMATT 2008 国际学术会议组织委员会

中国光学学会光学制造技术专业委员会